摘要：本文團結(jié)大量失效品闡明，對高壓電解電容失效原因及失效機理闡明，闡明功效表白：電解電容是在特定的利用情況下因為外部含氯氣體入侵導(dǎo)致電解電容呈現(xiàn)氯離子腐化陽極開路導(dǎo)致電容失效， 顛末對電解電容布局闡明、出產(chǎn)工藝闡明、氯離子管控闡明模仿闡明驗證，確認(rèn)為電解電容蓋板內(nèi)部四周聚積超標(biāo)含氯元素導(dǎo)致腐化失效，氯離子元素從外部入侵導(dǎo)致， 通過晉升電容端蓋密封機能及增加物料氯離子含量測試監(jiān)控及來料嘗試把關(guān)，從器件自己及質(zhì)量管控提高器件的整體應(yīng)用靠得住性。

0   引言

鋁電解電容以其容量大、體積小、價值低等利益已被遍及應(yīng)用于各類電子線路中，跟著海內(nèi)大屏幕彩電、變頻家電（如變頻空調(diào)）的普遍應(yīng)用和電子元器件的國產(chǎn)化，對鋁電解電容，出格是中、高壓鋁電解電容的質(zhì)量和靠得住性的要求愈來愈高。尤其是大屏幕彩電中所用的中、高壓（160~450 V）鋁電解電容主要用于開關(guān)電源部門，作整流后濾波，它的質(zhì)量優(yōu)劣直接影響到整機的機能，是線路中的要害元件。

近期統(tǒng)計節(jié)制器失效數(shù)據(jù)闡明發(fā)明售后復(fù)核會合反饋VTT電解電容鼓包失效突出，電容失效主要會合在多聯(lián)機主板30226000045（編碼）對應(yīng)C67絲印位置，其他主板利用該電容失效很少，查察該主板就是用1個電容，電容應(yīng)用在開關(guān)電源電路直流輸入部門做濾波用，從電路設(shè)計布局看該電容放在EMC電路后端，直接管到電源影響，電源顛簸直接影響電容事情狀態(tài)。該主板主要利用在商用多聯(lián)機側(cè)出風(fēng)外機，外機放在室外側(cè)、樓頂夏季外溫很高，電容事情直接管到高溫情況影響，溫升很高，夏天實際高達(dá)70~80 ℃度。電容鼓包失效嚴(yán)重影響產(chǎn)物質(zhì)量，需要立項組織攻關(guān)辦理。

1   高壓電解電容氯離子腐化失效闡明與生效機理研究

1.1 失效器件參數(shù)檢測闡明

取部門妨礙件測試容值整體偏小，標(biāo)稱容量470 μF / 450 V，實際測試數(shù)據(jù)如圖1所示，X-ray透射闡明晰認(rèn)正極陽極引出箔部門因電化學(xué)回響腐化導(dǎo)致陰影發(fā)生。

圖1 不良品參數(shù)測試如上圖

對失效妨礙件舉辦通例參數(shù)測試，不良品整體容量在nF級，損耗角嚴(yán)重超標(biāo)。測試參數(shù)如表1。

表1 不良品測試數(shù)據(jù)

1.2 失效電容X光透射闡明

對多單售后妨礙件x光透射闡明，正極箔引出端存在開路現(xiàn)象，周圍存在雜物附著。顛末理會查察為鋁箔腐化產(chǎn)品。

1.3失效器件剖解闡明

對多單失效妨礙件舉辦剖解闡明，妨礙現(xiàn)象均為正極鋁箔引出部門腐化開路失效（如圖2）。經(jīng)查閱資料得知是典范氯離子腐化失效，電容腐化失效位置在離蓋板最近的具有正高極電位的陽極引出片部位。

圖2 電解電容剖解陽極箔腐化開路

1.4 高壓鋁電解電容陽極氯離子腐化機理及表示

陽極引線條氯離子腐化，因為有附加產(chǎn)氫（正常自愈產(chǎn)氫之外），易使內(nèi)壓上升，造成鼓底爆炸，早期失效，制品率低。曾是鋁解電容器行業(yè)中高壓產(chǎn)物的一個重大問題。顛末蓋板材質(zhì)改造及文明出產(chǎn)的應(yīng)對法子之后，曾有很大的改進(jìn)。固然問題已根基辦理，但因這個危害的隱患因素依然存在。譬喻蓋板質(zhì)料的氯離子含量仍然較高，出產(chǎn)中的污染，及水分問題都是時刻會發(fā)作的隱含因素，應(yīng)該引起警醒。同時它也是影響壽命及耐波紋本領(lǐng)的重要因素。因此要出格加以重視。氯離子的恒久不絕腐化，對產(chǎn)物的粉碎會愈來愈大。氯離子含量超標(biāo)對電解電容是致命傷害。

1.4.1 氯離子對鋁或氧化膜的腐化機理